État actuel : Annulée

Cette norme a été révisée par ISO 17915:2018

Résumé

ISO/TS 17915:2013 describes methods of measuring temperature, injected current dependence and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications. ISO/TS 17915:2013 is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields. ISO/TS 17915:2013 is an application of ISO 13695, in which the physical bases are explained.

Informations générales

  • État actuel
     : Annulée
    Date de publication
     : 2013-07
    Stade
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  • Edition
     : 1
  • Comité technique :
    ISO/TC 172/SC 9
    ICS :
    31.260 
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Store
  3. Catalogue de normes
  4. ICS
  5. 31
  6. 31.260
  7. ISO/TS 17915:2013