Résumé
L'ISO 17470:2004 donne des recommandations pour l'identification des éléments et la recherche d'éléments particuliers présents dans un volume micrométrique spécifique d'un échantillon, par l'analyse des spectres de rayons X obtenus en utilisant des spectromètres à dispersion de longueur d'onde montés sur une microsonde de Castaing ou sur un microscope électronique à balayage.
Informations générales
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État actuel: AnnuléeDate de publication: 2004-09Stade: Annulation de la Norme internationale [95.99]
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Edition: 1Nombre de pages: 11
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Comité technique :ISO/TC 202/SC 2ICS :71.040.99
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Révisée par
PubliéeISO 17470:2014
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