Optique et photonique — Méthode d'essai pour déterminer le coefficient de température de l'indice de réfraction des verres optiques — Partie 1: Méthode de la déviation minimale

Optique et photonique — Méthode d'essai pour déterminer le coefficient de température de l'indice de réfraction des verres optiques — Partie 2: Méthode interférométrique

Microscopes — Liquides d'immersion pour microscopie optique

Optique et instruments d'optique — Microscopes — Lames porte-objet — Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage

Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Spécification des verres de chalcogénure utilisés dans le spectre infrarouge

Optique et instruments d'optique — Microscopes — Système de référence en microscopie de polarisation

Microscopes — Marquage des objectifs et des oculaires

Endoscopes — Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie — Partie 8: Exigences particulières pour les endoscopes à capsule

Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 2: Froid, chaleur et humidité

Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 3: Contraintes mécaniques

Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 4: Brouillard salin — Amendement 1

Optique et photonique — Méthodes d'essais d'environnement — Partie 23: Basse pression combinée à la température ambiante et froide et à la chaleur sèche ou humide

Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 2: Propriétés optiques

Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 5: Exigences minimales pour revêtements anti-réfléchissants

Optique et photonique — Traitements optiques — Partie 8: Exigences minimales pour revêtements utilisés pour l'optique laser

Microscopes — Réticules pour oculaires

Optique et instruments d'optique — Lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie — Définitions et méthodes de mesure

Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 1: Généralités

Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 5: Tolérances de forme de surface

Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 6: Tolérances de centrage et d'inclinaison

Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 8: État de surface

Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 9: Traitement de surface et revêtement

Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 11: Données non tolérancées

Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 12: Surfaces asphériques

Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 16: Surfaces diffractives

Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 18: Biréfringence sous contrainte, bulles et inclusions, homogénéité, et stries

Microscopes — Vocabulaire relatif à la microscopie optique

Optique et instruments d'optique — Microscopes — Raccord d'interface pour appareils photographiques SLR de 35 mm (adaptateur à filetage en T)

Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 2: Termes pour jumelles, monoculaires et lunettes

Optique et photonique — Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques — Partie 5: Termes pour les dispositifs de vision de nuit

Optique et photonique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 1: Instruments d'usage général

Optique et photonique — Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes — Partie 2: Instruments haute performance

Optique et instruments d'optique — Spécifications pour télescopes astronomiques

Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 1: Instruments pour usage général

Optique et photonique — Spécifications pour lunettes de pointage — Partie 2: Instruments haute performance

Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 2: Méthodes d'essai pour systèmes binoculaires

Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 4: Méthodes d'essai pour télescopes astronomiques

Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission

Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 6: Méthodes d'essai de l'indice de lumière parasite

Optique et photonique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 7: Méthodes d'essai pour limite de résolution

Optique et instruments d'optique — Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques — Partie 9: Méthodes d'essai pour la courbure de champ

Optique et photonique — Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques — Partie 2: Visionique

Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 1: Termes, définitions et relations fondamentales

Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques — Partie 2: Mesurage et techniques d'évaluation

Optique et photonique — Mesurage de composants et systèmes optiques — Partie 4: Interprétation et évaluation des tolérances de forme de surface et de déformation du front d'onde spécifiées dans l’ISO 10110

Optique et instrument d'optique — Évaluation de la qualité des systèmes optiques — Estimation de la dégradation de la qualité de l'image due à des aberrations chromatiques — Rectificatif technique 1

Optique et photonique — Capteurs de front d'onde pour caractérisation des systèmes optiques et des composants optiques

Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai de l'indice de réfraction des matériaux optiques infrarouges

Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthode d'essai d'homogénéité des verres optiques par interférométrie laser

Microscopes — Microscopes avec écrans d'affichage numérique — Informations fournies à l'utilisateur concernant la performance d'affichage

Microscopes — Désignation des objectifs de microscope — Partie 3: Facteur de transmission spectrale

Microscopes — Exigences minimales pour tubes binoculaires

Microscopes — Définition et mesurage des propriétés d'éclairage — Partie 2: Propriétés d'illumination liées à la couleur en microscopie à champ lumineux

Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthodes d’essai pour déterminer l’homogénéité des matériaux optiques infrarouges

Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Méthodes d’essai pour déterminer les stries des matériaux optiques infrarouges

Optique et photonique — Bandes spectrales

Microscopes — Microscopes confocaux — Données optiques des microscopes confocaux à fluorescence pour l'imagerie biologique

Analyse par microfaisceaux - Microscopie électronique à balayage - Qualification du microscope électronique à balayage pour des mesures quantitatives

Optique et photonique — Méthode d'essai pour l'indice de réfraction des verres optiques — Partie 2: Méthode du réfractomètre à blocs en V

Optique et photonique — Préparation des plans pour les éléments et systèmes optiques — Spécification des imperfections de surface et systèmes de mesure

Verre optique brut — Méthode d'essai sur poudre pour déterminer la résistance à l'eau du verre optique — Méthode d'essai et classification

Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Vocabulaire

Optique et photonique — Matériaux et composants optiques — Spécification de fluorure de calcium utilisé dans le spectre infrarouge

Optique et photonique — Spécification d'un dictionnaire de référence — Partie 1: Aperçu général sur l'organisation et la structure

Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique à balayage — Méthodes d'évaluation de la netteté d'image

Optique et photonique — Transfert électronique des données optiques — Partie 1: Modèle de données NODIF

Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques