Resumen
This document describes the influence quantities and instrument characteristics of confocal microscopy systems for areal measurement of surface topography. Because surface profiles can be extracted from surface topography images, the methods described in this document can be applied to profiling measurements as well.
Preview
Previsualice esta norma en nuestra Plataforma de navegación en línea (OBP)
Informaciones generales
-
Estado: PublicadoFecha de publicación: 2019-03Etapa: Norma Internacional en proceso de revisión sistemática [90.20]
-
Edición: 1Número de páginas: 21
-
Comité Técnico :ISO/TC 213ICS :17.040.20
- RSS actualizaciones
Ciclo de vida
Got a question?
Check out our FAQs
Customer care
+41 22 749 08 88
Opening hours:
Monday to Friday - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)