Reference number
ISO 17470:2014
© ISO 2024
International Standard
ISO 17470:2014
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Edition 2
2014-01
Preview
No disponible en español
Publicado (Edición 2, 2014)
Esta publicación se revisó y confirmó por última vez en 2019. Por lo tanto, esta versión es la actual.

ISO 17470:2014

Idioma
Formato
CHF 63
Convertir Franco suizo (CHF) a tu moneda

Resumen

ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2014-01
    Etapa
    : Cierre de la revisión [90.60]
  • Edición
     : 2
    Número de páginas
     : 10
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202/SC 2
    ICS :
    71.040.99 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

¿Tiene alguna duda?

Consulte nuestras Ayuda y asistencia

Atención al cliente
+41 22 749 08 88

Horario de asistencia:
De lunes a viernes - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Tienda
  3. Standards catalogue
  4. ICS
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.99
  8. ISO 17470:2014