недоступно на русском языке

Тезис

 Preview

ISO 20263:2017 specifies a procedure for the determination of averaged interface position between two different layered materials recorded in the cross-sectional image of the multi-layered materials. It is not intended to determine the simulated interface of the multi-layered materials expected through the multi-slice simulation (MSS) method. This document is applicable to the cross-sectional images of the multi-layered materials recorded by using a transmission electron microscope (TEM) or a scanning transmission electron microscope (STEM) and the cross-sectional elemental mapping images by using an energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) or an electron energy loss spectrometer (EELS). This document is also applicable to the digitized image recorded on an image sensor built into a digital camera, a digital memory set in the PC or an imaging plate and the digitalized image converted from an analogue image recorded on the photographic film by an image scanner.


Общая информация 

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2017-11
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 202/SC 3 Analytical electron microscopy
  • ICS
     :
    37.020 Optical equipment
    71.040.50 Physicochemical methods of analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF166

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 202/SC 3
  6. ISO 20263:2017