ISO 19668:2017
p
ISO 19668:2017
65947
недоступно на русском языке
Текущий статус : Опубликовано (Hа стадии пересмотра)
ru
Формат Язык
std 1 124 PDF
std 2 124 Бумажный
  • CHF124
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 19668:2017 specifies a procedure by which elemental detection limits in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be estimated from data for a particular sample in common analytical situations and reported. This document is applicable to homogeneous materials and is not applicable if the depth distribution of elements is inhomogeneous within the information depth of the technique.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2017-08
    : Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 7
    71.040.40 
  • RSS обновления

Preview 

Предварительно ознакомьтесь с этим стандартом в нашем Он-лайн библиотека стандартов (OBP)

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)