Изменения
ISO 17331:2004/Amd 1:2010
Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy — Amendment 1
Reference number
ISO 17331:2004/Amd 1:2010
Версия 1
2010-07
© ISO 2024
Изменения
Предпросмотр
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2010)

ISO 17331:2004/Amd 1:2010

Формат
Язык
CHF 18
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2010-07
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития

7
Недорогостоящая и чистая энергия
9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO 17331:2004/Amd 1:2010