ISO 9220:1988
w
ISO 9220:1988
16849

Текущий статус : Отозвано

Это стандарт пересмотренISO 9220:2022

Тезис

Specifies a method for the measurement of the local thickness of metallic coatings by examination of cross-section with a scanning electron microscope. It is destructive and has an uncertainty of less than 10 % or 0,1 /um, whichever is greater. It can be used for thicknesses up to several millimetres, but it is usually more practical to use a ligth microscope (ISO 1463). Annex a gives the preparation of cross-sections.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 1988-10
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 107
    25.220.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)