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Estado : Publicado (En proceso de revisión)

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Resumen

ISO 18452:2005 specifies a method for the determination of the film thickness of a fine ceramic film and ceramic coatings by a contact-probe profilometer. The method is suitable for film thicknesses in the range of 10 nm to 10 000 nm.

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Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2005-11
    Etapa
    : Norma Internacional confirmada [90.93]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 9
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 206
    ICS :
    81.060.30 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

Objetivos de Desarrollo Sostenible

Esta norma contribuye al siguiente Objetivo de Desarrollo Sostenible

9
Industry, Innovation and Infrastructure

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